11月12日，德国半导体展览会SEMICON Europa 2024在慕尼黑盛大启幕。森美协尓作为先进晶圆探针台制造商参展，全球首发V系列新一代高性能探针台，用成果展示了晶圆测试领域的无限创新可能，也为不断变化的半导体测试市场需求作出了有力响应。
森美协尔CEO刘世文先生携顶尖工程师团队亮相展会现场，让客户沉浸式体验森美协尔前沿晶圆测试技术，共同探讨行业洞见。展位人流络绎不绝，V系列探针台一经亮相就凭借其高测试灵活性，优异电学测试精度，集成工业美学的外观和紧凑型尺寸等核心性能，赢得了众多专业人士的高度评价和青睐，积极反馈不断，现场预售火热开启中。
随着半导体技术向更精细、更复杂方向发展，科研机构对于多样化测试需求不断增加，半导体封装测试厂商也面临提升效率与降低成本的挑战。森美协尔V系列探针台不仅继承了明星产品X系列半自动探针台的功能与操作性，也支持加装loader，实现手动与自动晶圆上片自由切换，赋予科研机构及半导体封装测试厂商更高的测试灵活性，轻松挑战复杂多变的测试任务。
半导体参数测试对于低漏电流的要求非常高，低漏电流测试能力直接关系到半导体器件的质量和可靠性，森美协尔V系列卡盘漏电流可达400fA以内，使得系统能够测量更低级别的漏电流参数。
（V8卡盘漏电流测试结果）
在外观方面，V系列探针台相比X系列产品实现了重大突破。它的体积和重量缩减至原来的二分之一，紧凑的设计大大减少了占地面积。这一改进无论是在空间有限的科研实验室，还是布局紧凑的生产车间，它都能游刃有余地安置，完美契合现代半导体行业对于空间利用的高要求，帮助企业实现降本增效。
森美协尔始终专注于半导体测试领域的精研深耕，力求以顶尖科技为全球芯片产业提供更精准、高效、可靠的测试解决方案。V8系列新一代探针台作为团队的匠心之作将赋能于各类半导体器件检测流程，让测试流程化繁为简、提速增效、灵活可控，亦是对森美协尔始终坚持创新引领发展、客户至上品牌理念的深度诠释。
